顯微紅外光譜儀測量到微米級別的樣品，電子器件表面的微小污染和以為及微米級樣品的材料通過顯微紅外測量得到的紅外光譜圖可以進行鑒別和結構解析等研究。

  布魯克紅外光譜儀INVENIO和顯微紅外光譜儀HYPERION聯(lián)用可以實現(xiàn)更深入的微米級樣品的測量和研究

  淘儀科技攜手布魯克光譜為您提供微米級異物的整體解決方案，助力污染、異物、微塑料等樣品的檢測和研究。