便攜式X射線熒光光譜分析儀

New! TRACER 5i

布魯克發(fā)布了新一代手持式XRF元素分析儀系統(tǒng)TRACER。新的TRACER 5i重新配置，更強(qiáng)大、靈活和適用于各種場合，同時(shí)保留的TRACER是公認(rèn)的獨(dú)特的特點(diǎn)和綜合分析軟件。

布魯克的新TRACER 5i集*了強(qiáng)大、功能、精度和準(zhǔn)確性，提供更加靈活的現(xiàn)場元素分析性能，適用性更加廣*:從日常的point-and-shoot簡單直接測(cè)量，到復(fù)雜的、具有挑戰(zhàn)性和先進(jìn)性的應(yīng)用和研究。

新的TRACER 5i保留其特有的可以運(yùn)用空氣、真空或氨氣保護(hù)光束路徑的特點(diǎn)，同時(shí)用戶可以自由地選擇工作功率、過濾器、準(zhǔn)直器和氣氛，伴隨其強(qiáng)大的綜合數(shù)據(jù)分析能力以及極低的檢測(cè)限LOD，可以在現(xiàn)場提供更快更準(zhǔn)的分析，特別是輕元素如鈉元素。新的分析軟件保留了TRACER綜合分析軟件功能，特別適用于研究復(fù)雜的材料。而*新的EasyCal軟件為用戶提供一個(gè)更簡化的工作流程，利用相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)材料來建立新的定量工作線或者校準(zhǔn)已有的工作線。

技術(shù)特點(diǎn)及其優(yōu)勢(shì):

TRACER 5i是手持式XRF外觀設(shè)計(jì)，適合各種場所，同時(shí)，又有強(qiáng)大的分析軟件，具有完備的實(shí)驗(yàn)室級(jí)別XRF分析儀的強(qiáng)大功能和準(zhǔn)確性。

光斑用戶可調(diào):有3mm和8mm兩種，用戶可以自行更換。

優(yōu)良的光束品質(zhì):專有的SharpBeam 光束優(yōu)化專利技術(shù)，保證在低功率下也有優(yōu)良表現(xiàn)

     Bruker設(shè)備的光斑                                       其它家產(chǎn)品的光斑

具有NASA專利技術(shù)的真空泵，可以在設(shè)備內(nèi)部，測(cè)量的光路區(qū)域形成真空，提升設(shè)備對(duì)輕質(zhì)元素如Na、Mg、AI等的靈敏度，特別適合測(cè)量玻璃、陶瓷等材質(zhì):由于真空是在設(shè)備內(nèi)部的，并不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成不必要的傷害，如出土的絲綢、紙張等材質(zhì)。真空泵上有真空度顯示，方便用戶識(shí)別。

素檢測(cè)范圍從Na(11)-U(92)特定條件下可偵測(cè)到F(9)(是市售*靈敏之便攜式XRF分析儀)。

TRACER 5i專門優(yōu)化設(shè)計(jì)了氣體流動(dòng)通道-可提供氨氣(He)吹拂,或搭配其它氣體來協(xié)助分析。

強(qiáng)大，靈活，互動(dòng)

便攜式X射線熒光光譜分析儀

控制的多樣性:可以使用設(shè)備內(nèi)建的PDA界面控制，也可以使用PC或者平板電腦連接控制。

無線遙控觸發(fā)測(cè)試功能 (可搭配平板或是計(jì)算機(jī)):既可以使用USB連線設(shè)備，也可以使用WiFi或藍(lán)牙無線遙控設(shè)備;無線遙控，令TRACER 5i的使用更加方便、更加靈活。

全新的、更大、更先進(jìn)的探測(cè)器:TRACER 5i使用的是40mm2的硅漂移探測(cè)器SDD，其能量分辨率<140eV@250,000cps@Mn Ka，是同類產(chǎn)品中*新進(jìn)的。

內(nèi)部集成CMOS相機(jī)，可以幫助觀察、定位測(cè)量區(qū)域;而且具有連拍功能，單次激發(fā)*多可以5張照片。

專業(yè)的ARTAX軟件，可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)光譜分析就是在測(cè)量時(shí)就可以通過電腦或平板實(shí)時(shí)看到光譜。此項(xiàng)功能可以幫助用戶快速篩選樣品或者做出判斷。而且界面與Bruker專業(yè)的合式XRF界面一致。

測(cè)量參數(shù)的開放性：

X射線光管的工作電壓和電流可調(diào):針對(duì)高*用戶或者特殊應(yīng)用，用戶可以非常容易地優(yōu)化測(cè)量條件;操作人員可以對(duì)X光熒光儀的電壓和電流在6千伏至50千伏，5微安至200微安范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)節(jié)；

自動(dòng)與手動(dòng)濾波器共存結(jié)構(gòu)- 可隨時(shí)手動(dòng)更換濾片:原廠高達(dá)百種濾片可供選購, 應(yīng)對(duì)對(duì)客戶不同應(yīng)用;用戶也可以針對(duì)自己的需求，自制濾片。

濾片組分、可設(shè)置的的X光管工作電壓、電流參數(shù);這些都是科研工作與論文，需要記錄的重要實(shí)驗(yàn)參數(shù)。

建立/修正軟件 - 提供更完善的自建數(shù)據(jù)庫分析功能：

Bruker獨(dú)有的EasyCal軟件，可以幫助用戶制作或者修改已有的檢量線Calibration; 用戶可以把自己的標(biāo)樣數(shù)據(jù)加入到已有的檢量線Calibration中也可以根據(jù)自己的研究對(duì)象，制作獨(dú)有的檢量線Calibration。

具有無標(biāo)定量( FP算法] 和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，用于定量計(jì)算。

強(qiáng)大的指紋數(shù)據(jù)庫軟件ARTAX:

用于控制硬件功能，實(shí)現(xiàn)光譜采集和存儲(chǔ);元素自動(dòng)識(shí)別，峰解譜功能，用于光譜分析:背景歸一以及峰凈面積計(jì)算；

強(qiáng)大的定性分析、半定量和定量計(jì)算功能;

專業(yè)的報(bào)告和數(shù)據(jù)輸出功能;

同時(shí)顯示200條光譜;

可以創(chuàng)建400萬條光譜的數(shù)據(jù)庫;

獨(dú)有的匹配篩選功能，可以在庫軟件中篩選出相似譜線。

市售專*原廠備有專門針對(duì)古物/藝術(shù)/考古學(xué)專*的檢量線Calibration,超過二十種標(biāo)準(zhǔn)檢量線可供選購:由于TRACER的客戶中，有一些是業(yè)內(nèi)專家，所以他們可以提供非常專業(yè)的標(biāo)樣供TRACER來做定量工作線，如美國蓋蒂博物館(Getty)的青銅標(biāo)樣，康寧玻璃博物(Corning)的玻璃標(biāo)樣等。

有專門的考古研究的專著介紹不同的研究對(duì)象Studies in Archaeological Sciences-HandheldXRF for Art and Archaeology》。